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场发射扫描电镜及X射线能谱仪

发布者:   发布时间:2021-02-28  浏览次数:

设备型号:日本日立SU8010

功能简介:

1、形貌分析,通过二次电子可以对样品的微观形貌、粒径、分散性进行表征成像,可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织等形貌像的观察,同时还可对材料断口和失效表面进行分析。

2、微区成分分析,通过对样品微区成分进行定性、定量分析,可确定样品的元素组成。

技术参数:

1、信号模式:二次电子模式和背散射模式

2、分辨率:1.0nm(加速电压15kV、WD=4mm、普通模式)1.3nm(加速电压1kV、WD=1.5mm、减速模式)

3、加速电压:0.1~30kV

4、观测倍率:30~80万倍

样品要求:

非磁性、干燥样品,尺寸在直径50mm,高度10mm内

典型案例:

金颗粒与氧化铜复合物的微观形貌(放大1万倍)

菊花状氧化锌的二次电子成像(放大7千倍)